NiSi2 Si interface crop
Autor/Urheber:
Attribution:
Das Bild ist mit 'Attribution Required' markiert, aber es wurden keine Informationen über die Attribution bereitgestellt. Vermutlich wurde bei Verwendung des MediaWiki-Templates für die CC-BY Lizenzen der Parameter für die Attribution weggelassen. Autoren und Urheber finden für die korrekte Verwendung der Templates hier ein Beispiel.
Shortlink:
Quelle:
Größe:
800 x 445 Pixel (238584 Bytes)
Beschreibung:
HAADF image produced by a Cs-corrected STEM at the SuperSTEM Laboratory, Daresbury, UK (funded by the EPSRC), of the interface between Nickel Disilicide (top) and Silicon (bottom). Inset of ball-and-stick model for clarity, ball-and-stick model created by use of the computer program MERCURY.
Lizenz:
Bild teilen:
Relevante Bilder
Relevante Artikel
RastertransmissionselektronenmikroskopEin Rastertransmissionselektronenmikroskop ist ein Elektronenmikroskop, bei dem ein Elektronenstrahl auf eine dünne Probe fokussiert wird und zeilenweise ein bestimmtes Bildfeld abrastert. Als Bildsignal werden in der Regel die durch die Probe transmittierten Primärelektronen benutzt, deren Strom synchron zur Position des Elektronenstrahles gemessen wird. Der Bildentstehung nach handelt es sich um eine Unterform des Rasterelektronenmikroskops (REM), der Untersuchungsgeometrie nach um ein Transmissionsmikroskop. An die Proben werden die gleichen Anforderungen bezüglich Durchstrahlbarkeit gestellt wie beim Transmissionselektronenmikroskop. .. weiterlesen