Atomic force microscope block diagram (de)


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946 x 918 Pixel (3115 Bytes)
Beschreibung:
Funktionsschema eines Rasterkraftmikroskops
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Public domain
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Weitere Informationen zur Lizenz des Bildes finden Sie hier. Letzte Aktualisierung: Sun, 07 Dec 2025 05:35:51 GMT

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Das Rasterkraftmikroskop, auch atomares Kraftmikroskop oder Atomkraftmikroskop genannt, ist ein spezielles Rastersondenmikroskop. Es ist ein wichtiges Werkzeug in der Oberflächenchemie und dient zur mechanischen Abtastung von Oberflächen und der Messung atomarer Kräfte im Nanometerbereich. Eine nanoskopisch feine Nadel wird mittels einer Blattfeder gegen die zu messende Probe gedrückt, und die atomaren Kräfte biegen die Blattfeder. Diese Auslenkung kann mit Licht gemessen werden, und damit kann die Kraft berechnet werden, die zwischen den Atomen der Oberfläche und der Spitze wirkt. Da zwischen der Probe und der Spitze kein Strom fließt, können auch nichtleitende Proben untersucht werden. .. weiterlesen