Ytterbium(II)-oxid

Kristallstruktur
(c) Goran tek-en, CC BY-SA 4.0
_ Yb2+ 0 _ O2−
Allgemeines
Name	Ytterbium(II)-oxid
Andere Namen	Ytterbiummonoxid Oxoytterbium
Verhältnisformel	YbO
Kurzbeschreibung	dunkelroter Feststoff[1]
Externe Identifikatoren/Datenbanken
CAS-Nummer 25578-79-4 PubChem 141223 ChemSpider 124569 Wikidata Q15628013
Eigenschaften
Molare Masse	189,05 g·mol−1
Aggregatzustand	fest[1]
Sicherheitshinweise
GHS-Gefahrstoffkennzeichnung keine Einstufung verfügbar[2]
Wenn nicht anders vermerkt, gelten die angegebenen Daten bei Standardbedingungen (0 °C, 1000 hPa).

Ytterbium(II)-oxid ist eine anorganische chemische Verbindung des Ytterbiums aus der Gruppe der Oxide.

Ytterbium(II)-oxid kann durch Reaktion von Ytterbium mit Ytterbium(III)-oxid bei 1000 °C und hohem Druck gewonnen werden.^[1][3][4]

Durch Molekularstrahlepitaxie können auch dünne Schichten der Verbindung erzeugt werden.^[5]

Ytterbium(II)-oxid ist ein diamagnetischer, dunkelroter Feststoff mit einer Kristallstruktur vom Natriumchloridtyp. Er ist unter normalem Umgebungsdruck metastabil.^[1]

1. ↑ ^{a b c d} Dictionary of Inorganic Compounds. Chapman & Hall, ISBN 978-0-412-30120-9, S. 3678 (eingeschränkte Vorschau in der Google-Buchsuche). 
2. ↑ Dieser Stoff wurde in Bezug auf seine Gefährlichkeit entweder noch nicht eingestuft oder eine verlässliche und zitierfähige Quelle hierzu wurde noch nicht gefunden.
3. ↑ High-Pressure Science and Technology. Springer US, ISBN 978-1-4684-7470-1, S. 1021 (eingeschränkte Vorschau in der Google-Buchsuche). 
4. ↑ J. M. Léger, C. Loriers, L. Albert, J. C. Achard: High-Pressure Science and Technology: Volume 1: Physical Properties and Material Synthesis / Volume 2: Applications and Mechanical Properties. Springer US, Boston, MA 1979, ISBN 978-1-4684-7470-1, Synthesis of Ytterbium Monoxide under High Pressure, S. 1021–1025, doi:10.1007/978-1-4684-7470-1_136. 
5. ↑ Mark D. Losego, Jon-Paul Maria: Synthesis of polycrystalline ytterbium monoxide thin films by molecular beam deposition. In: Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures Processing, Measurement, and Phenomena. Band 24, Nr. 4, 2006, S. 2111–2114, doi:10.1116/1.2214703 (aip.org).